問題詳情

46. 使用偵檢器測量 X 光機的半值層,偵檢器需至少離開其他物質 50 cm 以上,其目的為何?
(A)減少主射束到達偵檢器的強度
(B)減少主射束中低能光子到達偵檢器的強度
(C)較容易對正主射束
(D)避免散射光子影響測量準確性

參考答案

答案:D
難度:適中0.6
書單:沒有書單,新增

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