問題詳情
八、在量測半導體晶片或磊晶層的濃度，我們通常使用霍爾效應（Hall effect）及電容-電壓（C-V）方法。
(一) 請說明這兩種量測方法的基本原理。（10 分）
(一) 請說明這兩種量測方法的基本原理。（10 分）
參考答案
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