三、以 NaI（Tl）能譜儀度量能量為 2 MeV 之γ射線時，能譜上可能出現單逃逸峰（singleescape peak）、雙逃逸峰（double escape peak）及康普吞邊緣（Compton edge）：（20 分）
⑴試說明其成因。