問題詳情

8. X-射線繞射法最常用來鑑定物質的何種特性?
(A) 官能基種類
(B) 化學鍵長短
(C) 化學鍵能強弱
(D) 晶體結構

參考答案

答案:D
難度:簡單0.75
統計:A(1),B(2),C(0),D(9),E(0)

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