問題詳情

36 為第四代 X 光電腦斷層造影機採用最多之閃爍材料製成之偵檢器為下列何者?
(A)NaI (sodium iodine)
(B)CaF2 (calcium fluoride)
(C)BGO (bismuth germinate)
(D) CdWO4 (cadmium tungstate)

參考答案

無參考答案

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