問題詳情

65. 結構上,下列何種量具較容易產生亞培(Abbe)測量誤差
(A)外徑分厘卡
(B)卡式內徑分厘卡
(C)直桿式內徑分厘卡
(D)深度分厘卡。3

參考答案

答案:B
難度:適中0.666667
統計:A(0),B(2),C(0),D(1),E(0)

內容推薦