問題詳情

32. 下列何種型式的位置檢出計最易受外界磁場之影響?
(A) 電位計型
(B) 電容型
(C) 可變磁阻型
(D) 電感型

參考答案

答案:D
難度:適中0.5
書單:沒有書單,新增

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