問題詳情

一、可以利用 X 光繞射光譜(diffraction spectrum)或是電子繞射圖譜(diffraction pattern)來分析晶體的晶格常數(lattice constant) ,請論述那一個技術可以得到較準確的值?(10 分)

參考答案

答案:A
難度:簡單0.769231
統計:A(30),B(6),C(2),D(0),E(0)

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