問題詳情

三、掃描電子顯微鏡/X 射線能譜法(SEM/EDS)在鑑識上常用以觀測微細碎粒的形狀及分析所含的金屬元素。試說明⑴微細碎粒在螢幕上構成影像的原理;⑵ X 射線產生的機制及 K 系列(K series)譜線及 L 系列(L series)譜線的區別。並說明所得X 射線能譜的特性與用途。(25 分)

參考答案

答案:A
難度:簡單0.724371
統計:A(749),B(114),C(85),D(9),E(0)

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