問題詳情

33 在材料分析中,利用 X 光繞射法(X-ray diffraction, XRD),一般是分析什麼?
(A)結晶構造
(B)化學成份
(C)表面缺陷
(D)電子能階

參考答案

答案:A
難度:簡單0.868421
統計:A(33),B(0),C(1),D(4),E(0)

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